振動試驗臺是根據(jù)載流導體在磁場中受力而發(fā)生運動的原理，采用的機械結(jié)構(gòu)和的工藝制作，主要特點為：磁路采用雙磁路強磁場結(jié)構(gòu)，動圈采用無骨架繞組，動圈支撐系統(tǒng)采用懸臂支架和空氣彈簧支撐，功放采用的開關放大電路，系統(tǒng)保護功能齊全，采用智能式控制，冷卻形式為強迫風冷。振動試驗臺各項技術指標均符合GB/T13310-91《電動振動臺技術條件》和企標Q/320502SN001-2007《DV、DC系列電動振動試驗系統(tǒng)》的要求。
振動試驗臺主要參數(shù)：
1.型號：ES-3; 
2.動轉(zhuǎn)速度：60-300RPM（轉(zhuǎn)/分鐘）可調(diào); 
3.速度顯示精度：1RPM(轉(zhuǎn)/分鐘); 
4.振動方式：往復式; 
5.振幅（P-P）：25.4mm(英寸); 
6.載重：70kg; 
7.有效臺面：1.2*1.1m（長*寬）; 
8.時間設定范圍：0seconds秒~99hour小時; 
9.電機功率：1HP; 
10.調(diào)速方式：直流調(diào)速; 
11.總重230KG; 
12.電源：220V50Hz

振動試驗臺技術參數(shù)：1．大試驗負載(Kg)：602．設時范圍：0.01S-99.99H3．手動調(diào)頻范圍(Hz)：1~2004．工作臺面尺寸(mm)：550×550×465．自動掃頻范圍(Hz)：1~2006．工作臺體尺寸(mm)：550×550×3507．空載位移幅值(mm)：0~58．控制箱尺寸(mm)：450×330×7509．振動方向：垂直10．電源電壓(V/Hz)：220/50±2%11．振動波形：正弦波12．消耗功率(KVA)：1.713．測試模式：調(diào)頻/自動掃頻（線性振動）14．標準：GB/T2423.10

振動試驗臺技術參數(shù)：
1、頻率范圍：50HZ、1-600HZ、1-3000HZ、1-5000HZ
2、上下左右同一臺面臺體尺寸500×500×450:mm
上下左右前后同一個臺面臺體尺寸500×500×600:mm
3、振動波形：正弦波（半波/全波）
4、振動臺面尺寸500×500×10:mm
5、振幅范圍：0～4mm
6、大加速度：＜15g
7、承重量：75kg/60kg
8、時間設定范圍：1-65000S
9、運行次數(shù)：1-65000次任意設定
10、頻率可顯示到0.01Hz、精密度0.1Hz
11、電源電壓：AC220V/50HZ、AC380V/50HZ

振動試驗臺產(chǎn)品特點：
1．精密型設計制造、體積小、超靜音工作
2．機臺底座采用重型鋼材配減振膠墊，安裝方便，運行平穩(wěn)，無需安裝地腳螺絲
3．進口頻率控制器，數(shù)字化控制與顯示頻率，PID調(diào)節(jié)功能，使設備工作更為穩(wěn)定、可靠
4．控制參數(shù)實時同步顯示，無須人工干預。（各種控制條件，可于運轉(zhuǎn)中監(jiān)視之）
5．內(nèi)嵌式振幅預測程序及調(diào)幅容易
6．四點同步激振，臺面振動均勻
7．無級調(diào)整振幅，定頻及掃頻操作功能適應不同行業(yè)多種試驗要求
8．增加抗干擾電路,解決因強電磁場對控制電路干擾
9．外觀美觀，操作便捷，人性化控制
振動試驗臺是用于在實驗室內(nèi)模擬真實振動環(huán)境效應的試驗設備，振動試驗是在振動臺上采用不同的輸入信號激勵樣品。振動試驗主要分為正弦和隨機振動，由于兩者的物理過程不同，在兩者之間沒有嚴格的等效關系，所以在選擇試驗方式時，切勿進行正弦到隨機的嚴酷度等級轉(zhuǎn)換。
正弦振動試驗使用固定或變化的頻率和幅值的正弦信號，在每一瞬間時僅施加一個頻率，試驗條件包括頻率范圍或固定頻率、振幅和試驗持續(xù)時間。
真實環(huán)境中正弦振動很少一單一頻率的振動形式立出現(xiàn)。即使在旋轉(zhuǎn)的機械上直接測量加速度時也是這樣。如齒輪和軸承，實際存在的公差和間隙，通常導致在頻率上有微小的變化。旋轉(zhuǎn)機械的隨機特性也會發(fā)生某種形式的隨機振動。
正弦振動可以描述為確定性運動，遵循確定的規(guī)律，完全可以從過去的狀態(tài)來確定未來任意時間的狀態(tài)。在進行正弦掃頻試驗過程中，改方法通常用來確定出現(xiàn)失效的時刻，因為這個失效很可能是和特定頻率密切相關的，而用隨機振動試驗試驗方法這種相關效果不是很明顯。當然，相對于隨機試驗方法，正弦試驗方法通常需要用更長的時間激發(fā)出失效，這是因為每次掃頻過程中，在每個共振點上只作用很短的時間。盡管在任一時刻只施加一個頻率，如果掃頻速率足夠慢，確實可以使得樣品的特定共振峰達到大。也可以用來發(fā)現(xiàn)潛在的破壞性共振點，尤其是在設計和研制試驗中。
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